GB9706.1中关于电介质强度的判断依据描述为：“试验时不应发生闪络或击穿。如发生轻微的电晕放电，但当试验电压暂时降到必须高于基准电压(U)的较低值时，放电现象停止，且这种放电现象不会引起试验电压的下降，则这种电晕放电可不考虑。”

应该怎样理解？何为闪络或击穿？何为轻微的电晕放电？试验电压“暂时”降到...中，为何是“暂时”？“高于基准电压的较低值”中，“较低值”是多少？

我公司的产品是24V直流马达，客户的设备是医疗床（配套X光使用）。客户使用500V电压一端接马达供电绕组，另一端接马达外壳，当电流大于5mA时就判定我们的马达不合格。这样判断正确吗？如不正确应如何判断？

本人是新手，希望大家多多指点，谢谢！

击穿伤害是永久的，再次试验时电压低于这个击穿值，样品也会被击穿，而放电是到这个值才会发生，低于这个电压值则不出现。

Quote:

引用第1楼安老盖于2011-11-29 17:25发表的  :
击穿伤害是永久的，再次试验时电压低于这个击穿值，样品也会被击穿，而放电是到这个值才会发生，低于这个电压值则不出现。

"击穿伤害是永久的，再次试验时电压低于这个击穿值" 这句话不太同意。
很多测试，比如说3000V击穿了，但是调节到2000V还是可以pass的。

电晕放电 (corona discharge)气体介质在不均匀电场中的局部自持放电。最常见的一种气体放电形式。在曲率半径很小的尖端电极附近，由于局部电场强度超过气体的电离场强，使气体发生电离和激励 ，因而出现电晕放电引。发生电晕时在电极周围可以看到光亮 ，并伴有咝咝声。电晕放电可以是相对稳定的放电形式，也可以是不均匀电场间隙击穿过程中的早期发展阶段。

我一般理解成打火，处于微导通状态

Quote:

引用第1楼安老盖于2011-11-29 17:25发表的  :
击穿伤害是永久的，再次试验时电压低于这个击穿值，样品也会被击穿，而放电是到这个值才会发生，低于这个电压值则不出现。

这么解释无误。

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引用第4楼往事如烟于2011-11-29 20:08发表的  :

这么解释无误。

所谓“伤害”，是因加电压引起的吗？
会不会有时产品本身是好的，多次测试后导致击穿呢？

Quote:

引用第0楼wzq_0329于2011-11-29 17:11发表的 关于电介质强度是否合格的依据 :

GB9706.1中关于电介质强度的判断依据描述为：“试验时不应发生闪络或击穿。如发生轻微的电晕放电，但当试验电压暂时降到必须高于基准电压(U)的较低值时，放电现象停止，且这种放电现象不会引起试验电压的下降，则这种电晕放电可不考虑。”

应该怎样理解？何为闪络或击穿？何为轻微的电晕放电？试验电压“暂时”降到...中，为何是“暂时”？“高于基准电压的较低值”中，“较低值”是多少？

.......

闪络：在高电压作用下，气体或液体介质沿绝缘表面发生的破坏性放电。其放电时的电压称为闪络电压。发生闪络后，电极间的电压迅速下降到零或接近于零。闪络通道中的火花或电弧使绝缘表面局部过热造成炭化，损坏表面绝缘.

从你的描述看，电机外壳应该是保护接地的，那么测试的应该是基本绝缘，但是漏电流要求为5mA不太理解，耐压测试对漏电流的限值要求一直很模糊，估计这是检测机构的经验值。

电介质强度的电流限值应该讨论过很多次了，只要不是瞬间上升，就算超过5mA都没有问题，甚至你可以把限制设到20mA，因为真要是击穿和闪络，电流远不是mA级的

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引用第5楼wzq_0329于2011-11-29 22:03发表的  :



所谓“伤害”，是因加电压引起的吗？
会不会有时产品本身是好的，多次测试后导致击穿呢？

耐压测试本身就是老化试验，多次测试的确有可能导致绝缘老化而出现击穿，不过一般不会对一个样品多次进行耐压测试，因此很少会是由于这个原因导致的试验失效，除非你用的是翻新的零件

击穿：绝缘物质在电场的作用下发生剧烈放电或导电的现象
     
      击穿后物质被炭化，会变为导体，是不可恢复的

闪络：在高电压作用下，气体或液体介质沿绝缘表面发生的破坏性放电
 
      闪络实际上击穿了绝缘物质的表面导体，绝缘物质本身是没有损坏的