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MET 对于医疗设备的易被干扰性的RFID 程序测试方法研发
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AGUAN
2011-11-21 00:56
AIM,FDA及MET对医疗设备在RFID程序中的易被干扰性进行了数月的研究,研发了一套测试程序,并将于12月的
网络研讨会
中发布。
医疗设备制造商将会被邀请加入到该测试程序,可向MET提供具代表性的设备进行RFID测试。
了解更多,请登录MET中国官网:
www.metlabs-cn.com
或邮件咨询:
chinamarketing@metlabs.com
leejl1228
2011-11-21 10:14
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