安规网 » 信息音视频产品及电源认证 » 异常测试元器件失效问题
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feike008


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异常测试元器件失效问题

本帖被 秋飘风叶 执行锁定操作(2009-07-02)
对EN60065,很基本的问题:为什么进行元器件失效测试时,大多都是进行元器件的短路而较少的开路?标准有说明吗?


[ 此贴被feike008在2007-07-25 12:26重新编辑 ]

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顶端 Posted: 2007-07-24 21:03 | [楼 主]    新版 | 旧版安规网
seasunsky



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rt

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    如何理解  e)    ?

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    顶端 Posted: 2007-07-25 10:30 | 2 楼    新版 | 安规网
    seasunsky



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    Quote:
    引用第2楼clever于2007-07-25 10:30发表的  :
    如何理解  e)    ?

    就是基极-发射极之类的三个极两两短路啊

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    顶端 Posted: 2007-07-25 10:42 | 3 楼    新版 | 安规网
    feike008


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    [quote]引用第1楼seasunsky于2007-07-25 07:42发表的  :


    对不起,我问的是65的标准

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    顶端 Posted: 2007-07-25 11:40 | 4 楼    新版 | 安规网
    barry

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    Quote:
    引用第4楼feike008于2007-07-25 11:40发表的  :
    [quote]引用第1楼seasunsky于2007-07-25 07:42发表的  :


    对不起,我问的是65的标准


    原理是一样的,

    主要是考虑了元件失效后造成的后果严重度。。。

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    有肚量去容忍那些不能改变的事;
      有勇气去改变那些可能改变的事;
    顶端 Posted: 2007-07-26 11:25 | 5 楼    新版 | 安规网
    ppl03


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    二楼总版主果然利害

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    放弃是一种智慧,缺陷是一种恩惠
    顶端 Posted: 2007-07-26 11:44 | 6 楼    新版 | 安规网
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