目录：

先进可靠性分析导论
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　┣第一部分 概述
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  ┃┣1.可靠性工作的目的
  ┃┣2.可靠性工作的理论基础
  ┃┣3.可靠性工作的核心途径
  ┃┣4.可靠性分析的入手点
  ┃┣5.研究失效问题的工具
  ┃┗6.可靠性数据
  ┃
　┗第二部分
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    ┣第一讲：失效分析概论
    ┃┃
    ┃┣1.基本概念
    ┃┣2.失效分析的定义和作用
    ┃┣3.失效模式
    ┃┣4.失效机理
    ┃┗5.一些标准对失效分析的要求
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    ┣第二讲：分析技术及设备
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    ┃┣1.失效分析程序
    ┃┣2.非破坏性分析技术
    ┃┣3.半破坏性分析技术
    ┃┣4.破坏性分析技术
    ┃┗5.分析技术与设备清单
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    ┗第三讲：失效分析典型案例
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      ┣电路设计缺陷引起的失效
      ┣CMOS IC闩锁效应失效
      ┣ESD—静电放电损伤失效
      ┣过电损伤失效
      ┣电腐蚀失效
      ┣污染
      ┣机械应力损伤失效
      ┣热结构缺陷引起过热失效
      ┣材料缺陷案例
      ┣工艺缺陷案例
      ┣寿命失效
      ┗小结


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